对比试样校准原理
1. 复型测量法 一种间接的测量方法,通过将可塑性材料充满在人工缺陷内,经过凝固成型后取出,直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌,取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量,获 得人工缺陷的尺寸数据。
2. 显微测量法 直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后,以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面,通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。
对比试样校准测量前的准备
1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C₃H₆O进行清洗,用滤纸擦干,保持表面清洁,无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。
2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定),调整试样,使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。
3. 显微镜在合适的明场条件下,先用低放大倍数(10×或20×)找到人工缺陷位置,再换至高放大倍数对试样聚焦,调整载物台及试样,使人工缺陷处于视场中央。 调整测量设备,使测量面聚焦清晰,选择测量点位。
对比试样校准测量结果差别大?
探头的放置方法对测量有很大影响,在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长,避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头,由于这么不仅对探头会形成磨损,也不会得到的测量成果。别的,基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常,假如离电磁场十分近时还有也许会死机。
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